Principas
Kristalografijos pagrindas: Elektronų atgal – išsklaidytos difrakcijos (EBSD) technika pagrįsta Braggo kristalų plokštumų difrakcijos principu. Atomai kristale yra reguliariai išsidėstę. Kai elektronų pluoštas apšvitina kristalo paviršių, difrakcijos reiškiniai įvyks, kai bus įvykdytas Braggo dėsnis (kur yra tarpplokštuminis atstumas, yra difrakcijos kampas, yra difrakcijos tvarka ir yra elektronų pluošto bangos ilgis). Polikristalinėms medžiagoms, tokioms kaip plienas, skirtingi grūdeliai turi skirtingą kristalografinę orientaciją.
Orientacijos vaizdavimas: EBSD sistema gali nustatyti kiekvieno grūdo kristalografinę orientaciją, gaudama šiuos difrakcuotus elektronus. Skenuojančiame elektroniniame mikroskope (SEM) elektronų pluoštas nuskaito tašką mėginio paviršiuje ir kiekviename nuskaitymo taške gauna difrakcijos modelius. Šiuose difrakcijos modeliuose yra informacijos apie grūdelių orientaciją ir juos galima apdoroti programine įranga, kad būtų rodoma grūdelių orientacija vaizdo pavidalu, kuris vadinamas orientaciniu vaizdo žemėlapiu (OIM).
Grūdelių dydžio matavimo pagrindas: remiantis orientacinio vaizdo žemėlapiu, grūdelių ribas galima nustatyti išskiriant skirtingos orientacijos grūdus. Kadangi kiekvieno grūdo orientacija iš esmės yra tokia pati, o gretimų grūdelių orientacija skiriasi, grūdų ribas galima nustatyti nustatant atitinkamą orientacijos skirtumo slenkstį. Nustačius grūdų ribas, galima apskaičiuoti grūdelių dydį. Pavyzdžiui, grūdų dydžiui apibūdinti galima išmatuoti geometrinius parametrus, tokius kaip lygiavertis apskrito grūdo skersmuo.

 

 

Prietaiso parametrų nustatymas
Pagreičio įtampos nustatymas: skenuojančiame elektronų mikroskope nustatoma tinkama pagreičio įtampa pagal plieno mėginio savybes ir analizės reikalavimus. Paprastai plieno pagreičio įtampą galima nustatyti tarp 15 - 30kV. Tinkama pagreičio įtampa gali užtikrinti, kad elektronų pluoštas turėtų pakankamai energijos, kad prasiskverbtų į mėginio paviršių ir susidarytų aiškūs difrakcijos modeliai.
Darbinio atstumo reguliavimas: darbinis atstumas reiškia atstumą nuo elektronų pistoleto iki mėginio paviršiaus ir paprastai reguliuojamas tarp 10 - 20 mm. Tinkamas darbo atstumas gali leisti elektronų pluoštui būti gerai sufokusuotas ir priimti gerus difrakcijos signalus.
Nuskaitymo žingsnio pasirinkimas: nuskaitymo žingsnis yra atstumas tarp dviejų gretimų nuskaitymo taškų, kai elektronų pluoštas nuskaito mėginio paviršių. Didesnio grūdėtumo plieno mėginiams nuskaitymo žingsnį galima nustatyti šiek tiek didesnį, pvz., {{0}} μm; mažesnio grūdelių dydžio mėginiams nuskaitymo žingsnis turėtų būti mažesnis, pavyzdžiui, 0.{2}}μm, kad būtų užtikrintas tikslus kiekvieno grūdelio identifikavimas.
Duomenų gavimas
Mėginio montavimas: Paruoštas mėginys montuojamas ant skenuojančio elektroninio mikroskopo mėginio stadijos, užtikrinant, kad mėginys būtų tvirtai pritvirtintas ir turi gerą elektros laidumą.
Pradėti nuskaitymą: paleidžiama nuskaitymo programa, o elektronų pluoštas nuskaito taškas po taško mėginio paviršiuje pagal nustatytą nuskaitymo žingsnį. Kiekviename nuskaitymo taške EBSD detektorius priima išsklaidytus elektronus, paverčia juos elektriniais signalais, o tada sustiprina ir suskaitmenina, kad įrašytų kiekvieno nuskaitymo taško difrakcijos modelio informaciją.

 

 

 

 

 

Specifikacija, kurią tiekiame:

Storis	3-200mm
Plotis	1500-4000mm
Ilgis	5000-15000mm

 

 

 

Duomenų apdorojimas ir analizė
Rašto indeksavimas: surinkti difrakcijos modelio duomenys pirmiausia turi būti indeksuojami, ty lyginant su standartiniais difrakcijos modeliais žinomoje kristalografinėje duomenų bazėje, kad būtų nustatyta kristalografinė orientacija, atitinkanti kiekvieną nuskaitymo tašką. Šis procesas užbaigiamas naudojant specialią EBSD analizės programinę įrangą. Programinė įranga atitiks labiausiai tikėtiną kristalografinę orientaciją pagal difrakcijos dėmių padėtį ir intensyvumą.
Grūdelių rekonstrukcija: remiantis skenavimo taškų orientacijos informacija ir nustatyta orientacijos skirtumo slenksčiu (paprastai plienui orientacijos skirtumo slenkstis nustatomas tarp 10 - 15 laipsnio ), programinė įranga naudojama grūdelių riboms nustatyti ir padalinti. vienodos ar panašios orientacijos skenavimo taškus į vieną grūdelį, taip atkuriant grūdelio formą.
Grūdelių dydžio apskaičiavimas: atkūrus grūdelius, programinės įrangos įrankiais galima apskaičiuoti grūdelių dydį. Pavyzdžiui, galima apskaičiuoti tokius parametrus kaip kiekvieno grūdo plotas ir perimetras, tada galima apskaičiuoti ekvivalentinį apskritimo skersmenį ir kitus grūdų dydį apibūdinančius rodiklius. Tuo pačiu metu galima atlikti ir statistinę grūdų dydžio analizę, pavyzdžiui, apskaičiuoti vidutinį grūdelių dydį ir grūdų dydžio pasiskirstymą.

 

 

 

 

 

 

Didžiuojamės galėdami pasiūlyti individualius sprendimus, atitinkančius unikalius klientų poreikius.
Mes analizuojame ir lyginame ankstesnius gaminius ir esamą mūsų BV EH36 plieno plokštės techninę situaciją, kuriame naujas technines specifikacijas ir procesus.
Mūsų klientai pasitiki mumis, kad laiku ir pagal biudžetą pristatysime aukštos kokybės šaltai valcuoto plieno gaminius.
Griežtai įgyvendiname šiltą ir apgalvotą aptarnavimą po pardavimo, laikomės geros profesinės etikos ugdymo.
Siūlome platų šaltai valcuoto plieno gaminių asortimentą, kad patenkintume įvairius klientų poreikius.
Mes laikomės į klientą orientuotos ir į prekės ženklą orientuotos verslo filosofijos ir toliau teikiame klientams patikimus ir puikius produktus bei paslaugas.
Mūsų gamykla yra įsipareigojusi laikytis aukščiausių saugos ir kokybės standartų.
Visi mūsų įmonės darbuotojai ir visi padaliniai dirba kartu, kad derintų verslo valdymą, profesionalias technologijas, kiekybinius statistinius metodus ir ideologinį išsilavinimą.
Mūsų šaltai valcuoto plieno gaminiai yra žinomi dėl savo patvarumo ir patikimumo.
Pasikliaudami pranašesnėmis sąlygomis ir dideliais masinės gamybos pranašumais, galime patenkinti skirtingus klientų poreikius.

Populiarus Žymos: bv eh36 plieno plokštės, Kinijos bv eh36 plieno plokščių tiekėjai, gamykla